第三階段測驗
第三階段測驗:
隨機四組 4 bit 串列輸入及串列輸出,使用 Mealy-Type FSM 設計,此數位電路均以 NAND 邏輯閘設計,最後於 MAX+Plus II 上模擬驗證...

1. 由表中畫出有限狀態機圖(FSM),如下圖。

2. 將狀態圖轉換成狀態表,並減化狀態。
下圖為狀態圖轉成的狀態表。

觀察狀態表,可以將S4、S5、S6視為同一狀態,因此把S5和S6全都換成S4狀態。
換完後,又發現S2和S3也可視為同一狀態,因此再將S3換成S2。
下圖則為簡化後的狀態表。

下圖為簡化後的狀態圖(FSM)。

3. 指定狀態,並求出次一狀態 q0+、q1+ 及輸出 Y 的布林函數式。
下圖為指定狀態,並將狀態填入表中。


以下卡諾圖為求出 q0+、q1+、Y 的布林函數式。



5. 畫出電路圖。

註:下圖為D型正反器電路(以 NAND 邏輯閘)。

6. 模擬電路。
